|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 50 van 61 gevonden artikelen
| Titel: |
Residual stress fields in surface-treated silicon carbide for space industry—comparison of biaxial and triaxial analysis using different X-ray methods |
| Auteur: |
Genzel, Ch. Klaus, M. Denks, I. Wulz, H.G. |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. A, Structural materials: properties, microstructure and processing |
| Paginering: | Jaargang 390 (2005) nr. 1-2 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 50 van 61 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |