|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
Epitaxial stress study by large angle convergent beam electron diffraction and high-resolution transmission electron microscopy Moiré fringe pattern |
| Auteur: |
Pailloux, F Gaboriaud, R.J Champeaux, C Catherinot, A |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. A, Structural materials: properties, microstructure and processing |
| Paginering: | Jaargang 288 (2000) nr. 2 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science S.A. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |