|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Low angle X-ray diffraction as a probe of reactions at buried interfaces and as characterization technique for thin films |
| Auteur: |
Novet, Thomas Kevan, Stephen Johnson, David C. |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. A, Structural materials: properties, microstructure and processing |
| Paginering: | Jaargang 195 (1995) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1995 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |