|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 81 van 86 gevonden artikelen
| Titel: |
Thermal analysis on zone-melting recrystallization of silicon-on-insulator films using a finite difference method |
| Auteur: |
Richter, H.H Tillack, B Andrä, H Weinelt, W |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. A, Structural materials: properties, microstructure and processing |
| Paginering: | Jaargang 173 (1993) nr. 1-2 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1993 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 81 van 86 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |