|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Combination of shape and X-ray inspection for apple internal quality control: in silico analysis of the methodology based on X-ray computed tomography |
| Auteur: |
van Dael, M. Verboven, P. Zanella, A. Sijbers, J. Nicolai, B. |
| Verschenen in: |
Postharvest biology and technology |
| Paginering: | Jaargang 148 (2019) nr. C pagina's 218-227 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |