|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 105 van 757 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of SiO2 surface treatments using AFM, contact angles and a novel dewpoint technique |
| Auteur: |
Eske, Lance D. Galipeau, David W. |
| Verschenen in: |
Colloids and surfaces. A, Physicochemical and engineering aspects |
| Paginering: | Jaargang 154 (1999) nr. 1-2 pagina's 19 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 105 van 757 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |