|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Semi-parametric PWP model robustness for log-linear increasing rates of occurrence of failures |
| Auteur: |
Landers, T.L. Jiang, S.T. Peek, Jerry R. |
| Verschenen in: |
Reliability engineering & system safety |
| Paginering: | Jaargang 73 (2001) nr. 2 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |