Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 31 van 85 gevonden artikelen
 
 
  Development of acceptance sampling plans under time-truncated life test for verifying product reliability using weibull-percentile lifetimes
 
 
Titel: Development of acceptance sampling plans under time-truncated life test for verifying product reliability using weibull-percentile lifetimes
Auteur: Wu, Chien-Wei
Wang, To-Cheng
Chen, Rou-Hui
Verschenen in: Reliability engineering & system safety
Paginering: Jaargang 261 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2025
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 31 van 85 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland