|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 85 gevonden artikelen
| Titel: |
A comprehensive belief reliability analysis method for electronic systems considering the effect of failure mechanisms |
| Auteur: |
Wang, Yanfang Chen, Ying Li, Yingyi Kang, Rui |
| Verschenen in: |
Reliability engineering & system safety |
| Paginering: | Jaargang 261 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 85 gevonden artikelen
| volgende >> |