|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 57 van 66 gevonden artikelen
| Titel: |
Remaining useful life prediction for stochastic degrading devices incorporating quantization |
| Auteur: |
Zhang, Jian-Xun Zhang, Jia-Ling Zhang, Zheng-Xin Li, Tian-Mei Si, Xiao-Sheng |
| Verschenen in: |
Reliability engineering & system safety |
| Paginering: | Jaargang 250 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 57 van 66 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |