|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Accelerated degradation testing for lifetime analysis considering random effects and the influence of stress and measurement errors |
| Auteur: |
Li, Yang Gao, Haifeng Chen, Hongtian Liu, Chun Yang, Zhe Zio, Enrico |
| Verschenen in: |
Reliability engineering & system safety |
| Paginering: | Jaargang 247 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 46 gevonden artikelen
| volgende >> |