|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 92 gevonden artikelen
| Titel: |
A truncated test scheme design method for success-failure in-orbit tests |
| Auteur: |
Ding, Wenzhe Bai, Xiang Wang, Qingwei Long, Fang Li, Hailin Wu, Zhengrong Liu, Jian Yao, Huisheng Yang, Hong |
| Verschenen in: |
Reliability engineering & system safety |
| Paginering: | Jaargang 243 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 92 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |