|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 59 gevonden artikelen
| Titel: |
A deep neural network and Bayesian method based framework for all-terminal network reliability estimation considering degradation |
| Auteur: |
Davila-Frias, Alex Yodo, Nita Le, Trung Yadav, Om Prakash |
| Verschenen in: |
Reliability engineering & system safety |
| Paginering: | Jaargang 229 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 59 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |