|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
Nonparametric Bayesian reliability analysis of masked data with dependent competing risks |
| Auteur: |
Liu, Bin Shi, Yimin Ng, Hon Keung Tony Shang, Xiangwen |
| Verschenen in: |
Reliability engineering & system safety |
| Paginering: | Jaargang 210 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 52 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |