|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 55 gevonden artikelen
| Titel: |
Integrated Stateflow-based simulation modelling and testability evaluation for electronic built-in-test (BIT) systems |
| Auteur: |
Shi, Junyou He, Qingjie Wang, Zili |
| Verschenen in: |
Reliability engineering & system safety |
| Paginering: | Jaargang 202 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 55 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |