|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 31 van 50 gevonden artikelen
| Titel: |
Optimal degradation-based burn-in policy using Tweedie exponential-dispersion process model with measurement errors |
| Auteur: |
Chen, Zhen Pan, Ershun Xia, Tangbin Li, Yanting |
| Verschenen in: |
Reliability engineering & system safety |
| Paginering: | Jaargang 195 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 31 van 50 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |