|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 50 gevonden artikelen
| Titel: |
A new calibration metric that considers statistical correlation: Marginal Probability and Correlation Residuals |
| Auteur: |
Kim, Wongon Yoon, Heonjun Lee, Guesuk Kim, Taejin Youn, Byeng D. |
| Verschenen in: |
Reliability engineering & system safety |
| Paginering: | Jaargang 195 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 50 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |