|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 51 gevonden artikelen
| Titel: |
An empirical model to describe performance degradation for warranty abuse detection in portable electronics |
| Auteur: |
Oh, Hyunseok Choi, Seunghyuk Kim, Keunsu Youn, Byeng D. Pecht, Michael |
| Verschenen in: |
Reliability engineering & system safety |
| Paginering: | Jaargang 142 (2015) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 51 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |