|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
EM algorithm for one-shot device testing with competing risks under exponential distribution |
| Auteur: |
Balakrishnan, N. So, H.Y. Ling, M.H. |
| Verschenen in: |
Reliability engineering & system safety |
| Paginering: | Jaargang 137 (2015) nr. C pagina's 12 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |