|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Depth-profile analysis of thermoelectric layers on Si wafers by pulsed r.f. glow discharge time-of-flight mass spectrometry |
| Auteur: |
Reinsberg, K.-G. Schumacher, C. Tempez, A. Nielsch, K. Broekaert, J.A.C. |
| Verschenen in: |
Spectrochimica acta. Part B, Atomic spectroscopy |
| Paginering: | Jaargang 76 (2012) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |