|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Adaptation of a commercial total reflection X-ray fluorescence system for wafer surface analysis equipped with a new generation of silicon drift detector |
| Auteur: |
Pahlke, Siegfried Meirer, Florian Wobrauschek, Peter Streli, Christina Peter Westphal, Georg Mantler, Claus |
| Verschenen in: |
Spectrochimica acta. Part B, Atomic spectroscopy |
| Paginering: | Jaargang 61 (2006) nr. 10-11 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 30 gevonden artikelen
| volgende >> |