|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of organic contaminants on Si wafers with TXRF-NEXAFS |
| Auteur: |
Pepponi, G. Beckhoff, B. Ehmann, T. Ulm, G. Streli, C. Fabry, L. Pahlke, S. Wobrauschek, P. |
| Verschenen in: |
Spectrochimica acta. Part B, Atomic spectroscopy |
| Paginering: | Jaargang 58 (2003) nr. 12 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |