|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of trace metals in thin silicon nitride films by total-reflection X-ray fluorescence |
| Auteur: |
Vereecke, G. Arnauts, S. Van Doorne, P. Kenis, K. Onsia, B. Verstraeten, K. Schaekers, M. Van Hoeymissen, J.A.B. Heyns, M.M. |
| Verschenen in: |
Spectrochimica acta. Part B, Atomic spectroscopy |
| Paginering: | Jaargang 56 (2001) nr. 11 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |