|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
On the calculation of X-ray fluorescence line intensities excited from thin layers on thick substrates |
| Auteur: |
Verheijke, M.L. Witmer, A.W. |
| Verschenen in: |
Spectrochimica acta. Part B, Atomic spectroscopy |
| Paginering: | Jaargang 33 (1978) nr. 10-12 pagina's 15 p. |
| Jaar: |
1978 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |