|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Elemental depth profiling in transparent conducting oxide thin film by X-ray reflectivity and grazing incidence X-ray fluorescence combined analysis |
| Auteur: |
Rotella, H. Caby, B. Ménesguen, Y. Mazel, Y. Valla, A. Ingerle, D. Detlefs, B. Lépy, M.-C. Novikova, A. Rodriguez, G. Streli, C. Nolot, E. |
| Verschenen in: |
Spectrochimica acta. Part B, Atomic spectroscopy |
| Paginering: | Jaargang 135 (2017) nr. C pagina's 22-28 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |