Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 2 van 18 gevonden artikelen
 
 
  An empirical likelihood ratio based goodness-of-fit test for Inverse Gaussian distributions
 
 
Titel: An empirical likelihood ratio based goodness-of-fit test for Inverse Gaussian distributions
Auteur: Vexler, Albert
Shan, Guogen
Kim, Seongeun
Tsai, Wan-Min
Tian, Lili
Hutson, Alan D.
Verschenen in: Journal of statistical planning and inference
Paginering: Jaargang 141 (2011) nr. 6 pagina's 13 p.
Jaar: 2011
Inhoud:
Uitgever: Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 2 van 18 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland