|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
RVE-based studies on the coupled effects of void size and void shape on yield behavior and void growth at micron scales |
| Auteur: |
Li, Zhenhuan Steinmann, Paul |
| Verschenen in: |
International journal of plasticity |
| Paginering: | Jaargang 22 (2006) nr. 7 pagina's 22 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |