|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
ENO and WENO schemes using arc-length based smoothness measurement |
| Auteur: |
Biswas, Biswarup Dubey, Ritesh Kumar |
| Verschenen in: |
Computers & mathematics with applications |
| Paginering: | Jaargang 80 () nr. 12 pagina's 2780-2795 |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |