|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Optimal periodic testing policy for circuit with self-testing |
| Auteur: |
Mizutani, Satoshi Nakagawa, Toshio Ito, Kodo Sandoh, Hiroaki |
| Verschenen in: |
Computers & mathematics with applications |
| Paginering: | Jaargang 51 (2006) nr. 2 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd. All rights reserved |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |