Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige   
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 127 van 127 gevonden artikelen
 
 
  XPS analysis of the groove wearing marks on flank face of diamond tool in nanometric cutting of silicon wafer
 
 
Titel: XPS analysis of the groove wearing marks on flank face of diamond tool in nanometric cutting of silicon wafer
Auteur: Zong, W.J.
Sun, T.
Li, D.
Cheng, K.
Liang, Y.C.
Verschenen in: International journal of machine tools & manufacture
Paginering: Jaargang 48 (2008) nr. 15 pagina's 10 p.
Jaar: 2008
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 127 van 127 gevonden artikelen
 
<< vorige   
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland