Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
   volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 1 van 7 gevonden artikelen
 
 
  A load identification method for the grinding damage induced stress (GDIS) distribution in silicon wafers
 
 
Titel: A load identification method for the grinding damage induced stress (GDIS) distribution in silicon wafers
Auteur: Zhou, Ping
Xu, Shance
Wang, Ziguang
Yan, Ying
Kang, Renke
Guo, Dongming
Verschenen in: International journal of machine tools & manufacture
Paginering: Jaargang 107 (2016) nr. C pagina's 7 p.
Jaar: 2016
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 1 van 7 gevonden artikelen
 
   volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland