Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 41 van 54 gevonden artikelen
 
 
  Reliability analysis for devices subject to competing failure processes based on chance theory
 
 
Titel: Reliability analysis for devices subject to competing failure processes based on chance theory
Auteur: Liu, Baoliang
Zhang, Zhiqiang
Wen, Yanqing
Verschenen in: Applied mathematical modelling
Paginering: Jaargang 75 (2019) nr. C pagina's 398-413
Jaar: 2019
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Inc.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 41 van 54 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland