|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Nondestructive testing of chips faults based on Terahertz pulse time-domain reflection technology |
| Auteur: |
Xu, Zhen Ren, Xiang Li, Jining Liu, Longhai Zhang, Nan Luo, Man Jiang, Chen Zhang, Jiaxin Qiao, Xiuming Wang, Tan Xu, Degang |
| Verschenen in: |
Physics letters. A |
| Paginering: | Jaargang 524 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |