|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
A perspective on multiparameter quantum metrology: From theoretical tools to applications in quantum imaging |
| Auteur: |
Albarelli, F. Barbieri, M. Genoni, M.G. Gianani, I. |
| Verschenen in: |
Physics letters. A |
| Paginering: | Jaargang 384 () nr. 12 pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |