|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of molecular organization in pentacene thin films on SiO2 surface using infrared spectroscopy, spectroscopic ellipsometry, and atomic force microscopy |
| Auteur: |
Frątczak, E.Z. Uznański, P. Moneta, M.E. |
| Verschenen in: |
Chemical physics |
| Paginering: | Jaargang 456 (2015) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |