|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Dependent microstructure noise and integrated volatility estimation from high-frequency data |
| Auteur: |
Li, Z. Merrick Laeven, Roger J.A. Vellekoop, Michel H. |
| Verschenen in: |
Journal of Econometrics |
| Paginering: | Jaargang 215 () nr. 2 pagina's 536-558 |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 15 gevonden artikelen
| volgende >> |