|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
X–ray spectroscopy as the method of investigation of the electron structure in disordered semiconductors |
| Auteur: |
Terekhov, V.A. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 96 (1998) nr. 1-3 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 32 gevonden artikelen
| << vorige |