|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 51 gevonden artikelen
| Titel: |
Electronic and atomic structures of Si–C–N thin film by X-ray-absorption spectroscopy 1 Presented at the Todai Symposium 1997 and the 6th ISSP Internatioanl Symposium on Frontiers in Synchrotron Radiation Spectroscopy, Tokyo, Japan, 27–30 October 1997. 1 |
| Auteur: |
Pong, W.F Chang, Y.K Hsieh, H.H Tsai, M.-H Lee, K.H Dann, T.E Chien, F.Z Tseng, P.K Tsang, K.L Su, W.K Chen, L.C Wei, S.L Chen, K.H Bhusari, D.M Chen, Y.F |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 92 (1998) nr. 1-3 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 51 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |