|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Account of photoelectron elastic determination of overlayer thickness, in-depth profiling, escape depth, attenuation coefficients and intensities in surface systems |
| Auteur: |
Nefedov, V.I. Fedorova, I.S. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 85 (1997) nr. 3 pagina's 28 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 8 gevonden artikelen
| volgende >> |