|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 129 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of the XPS and optical reflectivity spectra of the chemically etched Si(111) surfaces |
| Auteur: |
Iwanowski, R.J. Sobczak, J.W. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 76 (1995) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1995 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 129 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |