|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 6 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray photoelectron spectroscopy characteristics of the W/TiN/Si and W/TiN/SiO2/Si structures |
| Auteur: |
Kumar, Sunil Chopra, D.R. Smith, Gregory C. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 63 (1993) nr. 2 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1993 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 6 gevonden artikelen
| << vorige |