|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 72 gevonden artikelen
| Titel: |
Factor analysis of angle-dependent XPS Si 2p spectra from dry processed Si wafers |
| Auteur: |
Moulder, J.F. Watson, D.G. Stickle, W.F. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 52 (1990) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1990 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 72 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |