|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
A new method for determining relaxation energies by means of aes and xps and its application to silicon compounds |
| Auteur: |
Bechstedt, F. Enderlein, R. Fellenberg, R. Streubel, P. Meisel, A. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 31 (1983) nr. 2 pagina's 13 p. |
| Jaar: |
1983 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |