|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
The impact of the scanning XPS microprobe on industrial applications of X-ray photoelectron spectroscopy |
| Auteur: |
Moulder, J.F. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 231 (2019) nr. C pagina's 43-49 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |