|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Surface stoichiometry analysis by AES, EELS spectroscopy and AFM microscopy in UHV atmosphere of SnO2 thin film |
| Auteur: |
Lounis, Zakia Bouslama, M’hamed Zegadi, Choucki Ghaffor, Djamel Gazzoul, M’hamed Baizid, Abdelhak Halati, M. Salah Kharroubi, Bachir Besahraoui, Fatiha Ouerdane, Abdallah |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 226 (2018) nr. C pagina's 9-16 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 9 gevonden artikelen
| << vorige |