|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of argon sputtering on XPS depth-profiling results of Si/Nb/Si |
| Auteur: |
Demchenko, Iraida N. Melikhov, Yevgen Syryanyy, Yevgen Zaytseva, Irina Konstantynov, Pavlo Chernyshova, Maryna |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 224 (2018) nr. C pagina's 17-22 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |