|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 5 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of angular distributions of K x-ray intensity of Ti and Cu thick targets following impact of 10–25keV electrons |
| Auteur: |
Singh, Bhupendra Kumar, Sunil Prajapati, Suman Singh, Bhartendu K. Llovet, Xavier Shanker, R. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 216 (2017) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 5 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |