|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Sensitivity factors, cross-section and resolution data for use with the Si Kα X-ray source |
| Auteur: |
Castle, J.E. West, R.H. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 19 (1980) nr. 3 pagina's 20 p. |
| Jaar: |
1980 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |