|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
A knife-edge measurement of the beam profile of STXM 5.3.2.2 using a focussed ion beam milled metallic glass |
| Auteur: |
Burke, Kerry B. Luber, Erik J. Holmes, Natalie P. Murray, Andrew J. Belcher, Warwick J. Zhou, Xiaojing Mitlin, David Dastoor, Paul C. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 185 (2012) nr. 11 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |