|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Structural determination of sintered Si3N4/SiC nanocomposite using the XPS differential charge effect |
| Auteur: |
Ténégal, F Gheorghiu de la Rocque, A Dufour, G Sénémaud, C Doucey, B Bahloul-Hourlier, D Goursat, P Mayne, M Cauchetier, M |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 109 (2000) nr. 3 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |